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透射电镜力电原位系统

产品特点

通过MEMS芯片在原位样品台内构建力、电复合多场自动控制及反馈测量系统,结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式,实现从纳米层面实时、动态监测样品在真空环境下随电场、施加力变化产生的微观结构演化、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化等关键信息。

  • 产品组成
  • 独特优势
  • 功能参数
  • 应用案例
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    a.高温力学样品杆
    b.MEMS力学加热芯片
    c.力学-温度控制系统
    d.温度控制器
    e.纳米探针操纵系统
    f.附件包
    g.针尖制备系统

     

     

     

     

     

     

     

     

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    领先的力学性能

    1.高精度压电陶瓷驱动,纳米级别精度数字化精确定位。

    2.可进行压缩、拉伸、弯曲等微观力学性能测试。

    3.业界领先的nN级力学测量噪音。

    4.具备连续的载荷-位移-时间数据实时自动收集功能。

    5.具备恒定载荷、恒定位移、循环加载控制功能,适用于材料的蠕变特性、应力松弛、疲劳性能研究。

     

     

    优异的电学性能

    1.芯片表面的保护性涂层保证电学测量的低噪音和精确性,电流测量精度可达pA级。

    2.MEMS微加工特殊设计,电场和力学加载同时进行,相互独立控制。

     

     

    智能化软件:

    1.人机分离,软件远程控制纳米探针运动。

    2.自动测量载荷-位移数据。

     

     

     

     

     

  • 功能

    参数

    材质

     

    控制方式

     

    最大载荷

     

    粗调范围X/Y/Z

     

    粗调精度

     

    细调范围X/Y/Z

     

    细调分辨率

     

    力测量噪音

     

    电压范围

     

    最小检测电流

     

    最小检测电压

     

    倾转角

     

    适用电镜

     

    适用极靴

     

     

     

    了解更多详情

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    钨纳米柱受力发生弹性形变过程中,弹性形变和塑性形变过程强 度和塑性是结构材料应用的关键特征,位错在调控材料强度和塑 性的过程中扮演了重要角色,一般来说,位错滑移越难,材料的强 度就越大,而第二相常用来阻碍位错运动以提高材料强度。例如, 陶瓷相可以用于金属强化,因为基体与第二相之间弹性模量的巨 大差异和严重的界面失配能够起到金属材料强化的作用,遗憾的 是硬的第二相一般是在牺牲延展性的条件下实现了强化作用。此 外,界面处严重的位错塞积可能会导致局部的应力集中,导致材 料在服役过程中突然失效。从本质上讲,既需要第二相阻止位错 的运动,还要一定程度上兼容位错滑移的可塑性。通过原位力学 测试,可以更方便研究材料界面应变场变化以达到优化复合材料 的强度和塑性的目的。

     

     

     

     

     

     

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