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透射电镜双倾探针电学原位系统

产品特点

通过纳米探针对样品施加电场控制，结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式，实现从纳米层面实时、动态监测样品在真空环境下随电场变化产生的微观结构演化、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化等关键信息。

a.双倾探针电学原位样品杆

b.电学控制器

c.电学测量程序

d.双倾控制器

e.纳米探针操纵系统

f.附件包

g.针尖制备系统

纳米探针操纵系统：

1.高精度压电陶瓷驱动，纳米级别精度数字化精确定位。

2.可对单个纳米结构进行操纵和电学测量。

优异的电学性能：

特殊设计保证电学测量的低噪音和精确性，电流测量精度可达pA级。

智能化软件：

1.人机分离，软件远程调节电学条件，程序自动化控制倾转角度。

2.全程自动记录实验细节数据，便于总结与回顾。

功能	参数
杆身材质	高强度钛合金
控制方式	高精度压电陶瓷
倾转角	α≥±20°，β≥±20°（实际范围取决于透射电镜和极靴型号）
适用电镜	Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi
适用极靴	ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP
(HR)TEM/STEM	支持
(HR)EDS/EELS/SAED	支持