- 产品组成
- 独特优势
- 功能参数
- 应用案例
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a.双倾探针电学原位样品杆 b.电学控制器 c.电学测量程序 d.双倾控制器 e.纳米探针操纵系统 f.附件包 g.针尖制备系统 -
纳米探针操纵系统:
1.高精度压电陶瓷驱动,纳米级别精度数字化精确定位。
2.可对单个纳米结构进行操纵和电学测量。
优异的电学性能:
特殊设计保证电学测量的低噪音和精确性,电流测量精度可达pA级。
智能化软件:
1.人机分离,软件远程调节电学条件,程序自动化控制倾转角度。
2.全程自动记录实验细节数据,便于总结与回顾。
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功能
参数
杆身材质
高强度钛合金
控制方式
高精度压电陶瓷
倾转角
α≥±20°,β≥±20°(实际范围取决于透射电镜和极靴型号)
适用电镜
Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi
适用极靴
ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP
(HR)TEM/STEM
支持
(HR)EDS/EELS/SAED
支持
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