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透射电镜双倾探针电学原位系统

产品特点

通过纳米探针对样品施加电场控制,结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式,实现从纳米层面实时、动态监测样品在真空环境下随电场变化产生的微观结构演化、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化等关键信息。

  • 产品组成
  • 独特优势
  • 功能参数
  • 应用案例
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    a.双倾探针电学原位样品杆
    b.电学控制器
    c.电学测量程序
    d.双倾控制器
    e.纳米探针操纵系统
    f.附件包
    g.针尖制备系统

     

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    纳米探针操纵系统:

    1.高精度压电陶瓷驱动,纳米级别精度数字化精确定位。

    2.可对单个纳米结构进行操纵和电学测量。

     

     

    优异的电学性能

    特殊设计保证电学测量的低噪音和精确性,电流测量精度可达pA级

     

     

    智能化软件:

    1.人机分离,软件远程调节电学条件,程序自动化控制倾转角度。

    2.全程自动记录实验细节数据,便于总结与回顾。

     

     

     

     

     

  • 功能

    参数

    杆身材质

     

    控制方式

     

    粗调范围X/Y/Z

     

    粗调精度

     

    细调范围X/Y/Z

     

    细调分辨率

     

    电压范围

     

    电流范围

     

    电流分辨率

     

    倾转角

     

    适用电镜

     

    适用极靴

     

    (HR)TEM/STEM

     

     

     

    了解更多详情

  • 纳米碳球压缩实验,用纳米探针操纵单个纳米碳球进行原位力学压缩试验

     

     

     

     

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