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透射电镜三维重构样品杆

产品特点

通过一系列不同倾斜角获得样品的二维平面成像信息,使用软件处理后可获得三维立体成像信息。直接使用3mm铜网样品进行观察,支持扫描透射模式下的高角环形暗场成像(HAADF-STEM)高分辨分析。

  • 产品组成
  • 独特优势
  • 功能参数
  • 应用案例
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    创新设计,提高实验效率:

    1.双边紧固铜网方式,漂移率低,样品易组装 

    2.中心对称设计,样品杆倾斜过程中重心偏移,提供迅速稳定层析成像。

     

     

    优异性能,卓越体验:

    1.大于±75°的高倾斜角,保证视野最大化。

    2.高强度钛合金材质,高精度加工,经久耐用。

     

     

     

     

     

     

     

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    功能

    参数

    杆身材质

     

    样品直径

     

    漂移率

     

    旋转角

     

    分辨率

     

    兼容电镜

     

    (HR)TEM/STEM

     

    (HR)EDS/EELS/SAED/HAADF-STEM

     

     

     

    了解更多详情

     

  • 电子断层扫描对纳米尺度地质材料的三维分析

    ET示意图。不同倾斜角度下的一系列TEM图像的获取(a)和从获 得的倾斜系列中重建样本的3D结构(b)。

     

    (a)使用FIB制备的黄铁矿柱状样品的HAADF-STEM图和(b)STEM-EDS图;以及从-63°到+70°以0.5°间隔获得的不同倾斜角的3D重建结果(c-f)。

    DOI: 10.46770/AS.2022.012

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

    (a-d)分别是在-44°、0°、+44°和+66°处获取的原始HAADF-STEM倾斜角度图像;(e-g)是从-44°到+66°以2°间隔获得重建的3D模型图。

     

     

     

    获取EELS谱图用于3D视图的元素和氧化态的重建模型

     

    DOI: 10.46770/AS.2022.012

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