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透射电镜双倾光热原位系统

产品特点

通过光纤引入的光源和MEMS芯片在原位样品台内构建光、热复合多场自动控制及反馈测量系统,结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式,实现从纳米甚至原子层面实时、动态监测样品在真空环境下随光场、温度变化产生的微观结构演化、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的原子级结构和成分演化等关键信息。

  • 产品组成
  • 独特优势
  • 功能参数
  • 应用案例
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    a.双倾光热原位样品杆
    b.MEMS原位光热芯片
    c.温度控制器
    d.温度控制程序
    e.光源工作站
    f.双倾控制器
    g.附件包

     

     

    关键词:
    • 透射电镜
    • MEMS原位光热芯片
    • 双倾光热原位样品杆
    • 双倾光热原位样品杆
    • 原位透射固体样品杆
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    业界领先的光学解决方案

    ·1.一体式激光光源,集成紫外-可见-红外不同波段并输出特定波长激光,光信号强(最大强度不低于150 mW/cm2),可快速连续调节光源强度,响应时间短(毫秒级)

    ·2.特殊结构设计,超低光损耗,能量稳定均匀。
    优异的热学性能

    ·1.高精密红外测温校正,微米级高分辨热场测量及校准,确保温度的准确性。

    ·2.超高频控温方式,排除导线和接触电阻的影响,测量温度和电学参数更精确。
    3.采用高稳定性贵金属加热丝(非陶瓷材料),既是热导材料又是热敏材料,其电阻与温度有良好的线性关系,加热区覆盖整个观测区域,升温降温速度快,热场稳定且均匀,稳定状态下温度波动≤±0.01℃。
    ·4.采用闭合回路高频动态控制和反馈环境温度的控温方式,高频反馈控制消除误差,控温精度±0.01℃。
    ·5.独特多级复合加热MEMS芯片设计,控制加热过程热扩散,极大抑制升温过程的热漂移,确保实验的高效观察。
    ·6.加热丝外部由氮化硅包覆,不与样品发生反应,确保实验的准确性。

           

  • 类别 项目 参数
    基本参数 杆身材质 高强度钛合金
    视窗膜厚 无膜或20nm
    漂移率 <0.5 nm/min(稳定状态)
    适用电镜 Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi
    适用极靴 ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP
    倾转角 α ≥ ±25°,β ≥ ±25°(实际范围取决于极靴型号)
    (HR)TEM/STEM 支持
    (HR)EDS/EELS/SAED 支持升温过程及高温检测

     

    了解更多详情

     

  • 二氧化铈纳米颗粒在800℃高温、光照条件下的表面结构变化

    1300°C恒温,金属合金扩散,芯片温度 稳定性好,漂移率低

    室温-1000°C变温过程MOF材料碳化研究

           

     

     

     

     

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