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透射电镜双倾光电原位系统

产品特点

通过光纤引入的光源和MEMS芯片在原位样品台内构建光、电复合多场自动控制及反馈测量系统,结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式,实现从纳米甚至原子层面实时、动态监测样品在真空环境下随光场、电场变化产生的微观结构演化、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的原子级结构和成分演化等关键信息。

  • 产品组成
  • 独特优势
  • 功能参数
  • 应用案例
  •  

     

     

    a.双倾光电原位样品杆
    b.MEMS原位光电芯片
    c.电学控制器
    d.电学控制程序
    e.光源工作站
    f.双倾控制器
    g.附件包

     

     

    关键词:
    • MEMS原位光电芯片
    • 双倾光电原位样品杆
    • 原位透射固体样品杆
  •  

       
    业界领先的光学解决方案

    ·1.一体式激光光源,集成紫外-可见-红外不同波段并输出特定波长激光,光信号强(最大强度不低于150 mW/cm2),可快速连续调节光源强度,响应时间短(毫秒级)。

    ·2.特殊结构设计,超低光损耗,能量稳定均匀。
    优异的电学性能

    ·1.采用模拟校验独特设计的芯片电极,电场分布均匀、电位稳定,芯片表面的保护性涂层保证电学测量的低噪音和精确性,电流测量精度可达pA级。

    ·2.MEMS微加工特殊设计,在加光过程中可同时进行电学试验和表征,不影响光信号稳定性。
    智能化软件和自动化设备

    ·1.人机分离,软件远程调节激光波段和强度,程序自动化控制倾转角度。

    ·2.全流程配备精密自动化设备,协助人工操作,提高实验效率。

           

  • 类别 项目 参数
    基本参数 杆身材质 高强度钛合金
    视窗膜厚 无膜或20nm
    漂移率 <0.5 nm/min(稳定状态)
    适用电镜 Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi
    适用极靴 ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP
    倾转角 α ≥ ±25°,β ≥ ±25°(实际范围取决于极靴型号)
    (HR)TEM/STEM 支持
    (HR)EDS/EELS/SAED 支持升温过程及高温检测

     

     

     

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